- [檢測百科]分享：基于聚焦離子雙束電鏡的透射電鏡微柱試樣制備2024年11月27日 10:37
- 聚焦離子雙束電鏡（FIB-SEM）具有制樣精度高、檢測速率快等優(yōu)點,FIB-SEM可以在高分辨率掃描電子顯微圖像監(jiān)控下進行聚焦離子束微納米加工,充分利用了離子束和電子束的優(yōu)點,并有效避免了兩者的缺陷。
- 閱讀（6） 標簽：
- [檢測百科]分享：冷軋涂鍍基板邊部缺陷成因分析及預(yù)防2024年08月06日 09:36
- 近年來家電產(chǎn)品制造商對表面品質(zhì)的要求日益提高，為達到高表面級別要求，必須嚴格控制家電用鋼板表面缺陷的發(fā)生率[1-2]。線狀缺陷是冷軋薄板最常見的缺陷之一，由于從煉鋼到軋制成品的工藝較長，導(dǎo)致冷軋薄板出現(xiàn)線狀缺陷的因素較多，因而線狀缺陷的產(chǎn)生原因需要具體問題具體分析[3-4]。
- 閱讀（3） 標簽：
浙公網(wǎng)安備 33042402000106號
